型號(hào):M50、M60和M80輕松檢驗(yàn)、篩選、觀察或記錄
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產(chǎn)品分類18600717106
在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500nm(近紅外)
查看詳情SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR
查看詳情該設(shè)備利用背衍射法探測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu),常用于單晶定向、測(cè)定晶體對(duì)稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等
查看詳情8600系列VSM采用大量的創(chuàng)新設(shè)計(jì),在降低測(cè)量噪聲的同時(shí)提高了采樣速度
查看詳情MCS-EMP多用途電磁鐵平臺(tái)提供了自動(dòng)化可變磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)所需的所有基本組件,包括兩種尺寸可選(4英寸/7英寸)的電磁體,兩種尺寸可選(2英寸/4英寸)的磁極帽和磁體底座、以及電磁體系統(tǒng)控制柜
查看詳情低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量,可以根據(jù)客戶需要,選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置
查看詳情根據(jù)樣品成分選擇不同頻率的探頭,來(lái)測(cè)試不同衰減系數(shù)的樣品
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