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Product CenterIM4000Ⅱ標準離子研磨儀使用低能量Ar離子束,加工無應力損傷的樣品截面,為SEM觀察樣品的內部多層結構、結晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質量透射電鏡樣品的制備,它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進行精確控制
VibroMet2振動拋光機可通過幾乎水平方向的振動,搭配MasterMet2二氧化硅拋光液使用,可去除樣品表面機械化制樣后殘留的細微變形層,從而得到高質量的拋光表面,而不必使用電解拋光制備所必需的危險電解液