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分析表征設(shè)備
粒度分析
納米粒度電位儀系列
納米粒度電位儀系列
型號:ZetasizerUltra
ZetasizerUltra融合了功能強(qiáng)大的DLS與ELS系統(tǒng),它采用了非侵入背散射(NIBS)和的多角動態(tài)光散射(MADLS)技術(shù)來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍,而MADLS則能讓您在這些關(guān)鍵測量當(dāng)中更精細(xì)地了解樣品粒度分布。
ZetasizerUltra Red Label的MADLS擴(kuò)展功能可直接分析顆粒濃度。顆粒濃度的測量適合于廣泛的材料,無需或只需很少稀釋,并且使用快捷,這一切使其成為一種理想的篩選技術(shù)。這是ZetasizerUltra的一項(xiàng)功能,甚至可以運(yùn)用于以前非常難測量的病毒和類病毒顆粒(VLP)等樣品。